數(shù)字IC品質(zhì)分選測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): ICT3100
所屬分類:集成電路測(cè)試儀
產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-07
簡(jiǎn)要描述:該儀器特別適合,整機(jī)生產(chǎn)廠商及其它IC應(yīng)用廠家的器件級(jí)進(jìn)廠測(cè)試。目前,對(duì)中小規(guī)模數(shù)字IC進(jìn)行簡(jiǎn)單的邏輯功能測(cè)試,已不能滿足IC用戶的測(cè)試需求ICT3100 數(shù)字IC多值邏輯測(cè)試儀,利用*的多值參數(shù)比較法,可以對(duì)數(shù)字IC進(jìn)行功能測(cè)試并同時(shí)完成各項(xiàng)直流參數(shù)測(cè)試。ICT3100*可以滿足IC用戶的參數(shù)測(cè)試要求。
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